更新時間:2023-03-20
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蘇州非標定制深度塞規(guī)
具有孔或軸的大極限尺寸和小極限尺寸為公稱尺寸的標準測量面(測頭),能反映控制被檢孔或軸邊界條件的無刻線長度測量器具。
使用量規(guī)可檢驗被檢尺寸不超過大極限尺寸,以及不小于小極限尺寸,其結(jié)構(gòu)簡單,通常是一些具有準確尺寸和形狀的實體,分通端(規(guī))和止端(規(guī)),如圓柱體、圓錐體、塊體平板等。光滑極*規(guī)主要分為塞規(guī)、環(huán)規(guī)和卡規(guī)三大類。
塞規(guī)是用于孔徑檢驗的光滑極*規(guī),其測量面為外圓柱面、球面等。其中,塞規(guī)尺寸具有被檢孔徑小極限尺寸的為孔用通規(guī),具有被檢孔徑大極限尺寸的為孔用止規(guī)。
環(huán)規(guī)是用于軸徑檢驗的光滑極*規(guī),其測量面為內(nèi)圓環(huán)面。其中,圓環(huán)直徑具有被檢軸徑大極限尺寸的為軸用通規(guī),具有被檢軸徑小極限尺寸的為軸用止規(guī)。
卡規(guī)是用于軸徑檢驗的光滑極*規(guī),其測量面為兩平行內(nèi)表面。其中,兩測量面的間距具有被檢軸徑大極限尺寸的為軸用通規(guī),具有被檢軸徑小極限尺寸的為軸用止規(guī)。
通端(規(guī)):模擬大實體邊界,檢驗孔、軸或距離的體外作用尺寸是否超過大實體邊界,測頭在允許公差內(nèi)通過被檢要素。
止端(規(guī)):檢驗孔、軸或距離的實際尺寸是否超過小實體尺寸,測頭在允許公差內(nèi)不能通過被檢要素。
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